Planizitätsmessungen von Lötpunkten

Moderne Mikrochips haben oft eine große Anzahl von Lötpunkten. Für eine zuverlässige Verbindung mit der Leiterplatte müssen diese eine definierte Höhe über dem Chip haben. Da der höchste Punkt nicht unbedingt genau in der Mitte des Lötpunktes liegt, sind hochauflösende 3D-Messungen erforderlich, um sie zu messen. Die Partikelanalyse von MountainsMap hat die notwendigen Funktionen, um fehlende oder fehlerhafte Lötpunkte zu erkennen.