smartWLI Technologie

 

Vorteile der high Perfomance Profiler

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Kohärenz-Scanning (Weißlicht) Interferometer

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Interferometrie Objektive

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 Interferenz von weißem Licht

smartWLI compact f5

spektrale Optimierung der Lichtquelle

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HD-EPSI (high density-extended phase shift interferometry)

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Vergleich von VSI, EPSI und HD-EPSI

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Profil Mittelung

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Vergleich von HD-EPSI und Profil Mittelungen

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Schnellere Messung durch die Verwendung von Prescans

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Leistungsfähige Algorithmen für steile Oberflächen

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Beispiele für steile konkave und konvexe Oberflächen

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firebolt, 5x Objektive 3d gedruckte Metalloberfläche

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Beschleunigung durch Dezimation

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Beschleunigung durch ROIs (reduced areas of interest)

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Messpunktabstand und optische Auflösung

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Unterschied zwischen Mikroskopie und 3d Messungen

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praktische Tests der Auflösung optischer 3D Profiler

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Vergleich zu taktilen Messungen

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Abtasttheorem und optische Auflösung

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Kratzer eines taktilen Messgerätes auf einem Raunormal

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korrekte Messung zertifizierter Oberflächen-Raunormale

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smartSTITCH perfekte Messung größerer Bereiche

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