GBS mbH - Optische Messtechnik

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Oberflächenkennwerte von plangedrehten Kleinteilen

Bestimmung der Rillentiefe, Ebenheit und Rauheitsparameter

Messung mit 2,5-fach Michelson-Interferometer-Objektiv und Vertical-Scanning-Interferometry (VSI)

  • Date: 2016
  • Info: Plangedrehte Oberflächen von Metallkleinteilen (mit hohen Ebenheitsanforderungen)

 

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