Oberflächenkennwerte von plangedrehten Kleinteilen
OberflächenkennwertevonplangedrehtenKleinteilen
Bestimmung der Rillentiefe, Ebenheit und Rauheitsparameter
Messung mit 2,5-fach Michelson-Interferometer-Objektiv und Vertical-Scanning-Interferometry (VSI)
Date: 2016
Info: Plangedrehte Oberflächen von Metallkleinteilen (mit hohen Ebenheitsanforderungen)
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