Oberflächenkennwerte von plangedrehten Kleinteilen Bestimmung der Rillentiefe, Ebenheit und Rauheitsparameter Messung mit 2,5-fach Michelson-Interferometer-Objektiv und Vertical-Scanning-Interferometry (VSI) Date: 2016 Info: Plangedrehte Oberflächen von Metallkleinteilen (mit hohen Ebenheitsanforderungen)
