Page 2 - smartWLI Rauheitsmessung
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DIN EN ISO 25178-603/604
Weißlichtinterferometrie/Phase Shift Interferometrie
sind entsprechend DIN EN ISO 25178-603/604 anerkannte Messverfahren zur flächenhaften Erfassung der
Oberflächentextur. Die eingesetzte Kombination beider Verfahren EPSI (extended phase shift interferometry)
ermöglicht gegenüber Standardverfahren eine extrem hohe Auflösung innerhalb eines erweiterten Höhenbereiches.
µm
4.82
0
-5.18
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 5.5 6.0 mm
Rpk
Spk
Rk
Sk
Svk
Rvk
0 20 40 60 80 100 % 0 20 40 60 80 100 %
Smr1 Smr2 Mr1 Mr2
Information Information
Filter settings Unfiltered. Filter settings Robust Gaussian filter, 0.800 mm, Manage end effects.
Parameters Value Unit Parameters Value Unit
Sk 2.66 µm Rk 2.53 µm
Spk 0.864 µm Rpk 0.984 µm
Svk 0.874 µm Rvk 0.840 µm
Die erfassten 3D Daten können direkt zur Ermittlung von 3D Parametern verwendet werden. Alternativ können
einzelne bzw. eine Vielzahl von Profillinien selektiert und analog zu „klassischen“ Tastschnittgeräten zur Berechnung
von Rauheitsparametern genutzt werden.
