GBS mbH - Optische Messtechnik

GBS mbH - Optische Messtechnik

  • Karriere
  • Suche
  • Home
  • Produkte
  • Applikationen
  • Technologie
  • Aktuelles
  • Kontakt
      • Über uns
  • English
  • Startseite | 
  • Applikationen | 
  • Polierte Wafer Oberfläche

Polierte Wafer Oberfläche

Mit den smartWLI’s können größere Bereiche mit atomarer Höhenauflösung gemessen werden.

Unterschiedliche Objektive von 2.5x … 100x bieten dabei die Möglichkeit, das System für unterschiedliche Aufgabenstellung von der Ebenheitsmessung bis hin zu der Erfassung der Mikro-Rauheit einzusetzen. Die Erfassung von ca. 100 Mio. Punkten ist in weniger als 3 Minuten möglich.

Das Video zeigt neben der Oberflächenrauheit eines polierten Wafers eine geschliffene Wafer Oberfläche mit der vergrößerten Darstellung eines Teilbereiches.

 

 

Menü

  • Karriere
  • Suche
  • Home
  • Produkte
  • Applikationen
  • Technologie
  • Aktuelles
  • Kontakt
  • English

Kontakt zur GBS

Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung (GBS) mbH

Robert-Bosch-Ring 8
98693 Ilmenau

Tel. +49 (0) 36 77- 83710-50
Email: info@gbs-ilmenau.de

 

Datenschutzerklärung

Technischer Support

Trotz ausführlicher Dokumentation unserer Produkte hat sich eine technische Frage ergeben?

EMaill: support@gbs-ilmenau.de

Fernwartungssoftware: download

Zertifizierung

Zertifikat klein

  • Aktuelle Stellenangebote
  • Impressum
© 2023 GBS mbH - Optische Messtechnik
Back to top
Cookies erleichtern die Bereitstellung unserer Dienste. Mit der Nutzung unserer Dienste erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies verwenden.
Weitere Informationen Akzeptieren Ablehnen