smartWLI-microscope

3D-Upgrade Modul für optische Mikroskope aller bekannten Hersteller (ZEISS, LEICA, NIKON, OLYMPUS, MT RATHENOW) zur Funktionserweiterung bzgl. 3D-Nanomessungen auf Basis der Weißlichtinterferometrie.

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smartWLI-prime

Kompaktes Stand-Alone 3D-Oberflächenmessgerät auf Basis der Weißlichtinterferometrie. Das System ist eine besonders wirtschaftlich Lösung  für die 3D-Analyse von Oberflächen.

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smartWLI-extended

Stand-Alone 3D-Oberflächenmessgerät auf Basis der Weißlichtinterferometrie. Das System beinhaltet einen Objektivrevolver und einen motorischen XY-Tisch. Damit ist auch ein großflächiges Messen der Oberfläche möglich.
(Stitching).

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smartWLI-embedded

3D-Oberflächensensor optimiert für den inline- und mobilen Einsatz. Die Berechnung der 3D-Daten und die Analyse erfolgt direkt im Sensor. Ein PC ist nicht notwendig!

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smartWLI-portable LA

Mobiles 3D-Oberflächenmessgerät zur Messung von Large Areas mit einem Messbereich von bis zu 35x35 mm² auf Basis der Weißlichtinterferometrie und mit innovativer Lösung zur vereinfachten Interferenzsuche.

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